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GHW-12Z ENI

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详情介绍

ENI GHW-12Z(备件号 GHW12Z-13DF2N0-001)是MKS Instruments旗下ENI品牌研发的工业级射频等离子体发生器,专为半导体薄膜沉积与蚀刻工艺设计。该产品通过1250W高稳定功率输出与13.56MHz标准频率,为PECVD、RIE等工艺提供高密度等离子体,满足集成电路、显示面板制造的纳米级精度需求。

GHW-12Z ENI 1.png

应用场景

在三星西安3D NAND晶圆厂中,ENI GHW-12Z 驱动PECVD反应腔:

· 1250W射频功率激发均匀等离子体,沉积氮化硅薄膜;

· 自动阻抗匹配技术实时补偿腔体波动(响应≤10ms),薄膜均匀性提升至±1.8%(传统设备>±5%),单线年增产晶圆12万片。

核心参数速览

特性

技术规格

产品型号

ENI GHW-12Z

制造商

ENI(MKS Instruments)

产品类别

射频等离子体发生器

输出功率

1250W(连续可调)

工作频率

13.56MHz(工业标准)

输入电压

208VAC / 400-480VAC(双电压兼容)

阻抗匹配

自动调谐(反射功率<1%)

通信接口

RS-232 / 以太网(支持AMAT协议)

AMAT兼容号

0190-25527 / 0190-09832

冷却方式

强制风冷(冗余散热设计)

防护等级

IP54(防颗粒物/溅水)

技术原理与创新价值

· 创新点1:动态阻抗匹配
采用伺服控制反射计实时监测负载,自动调谐电容-电感网络,晶圆尺寸切换时功率波动**<±2%**,良品率提升18%。

· 创新点2:AMAT原生协议集成
直接兼容 Applied Materials GEM 300协议,无缝接入P5000设备,故障诊断效率提高50%。

· 创新点3:模块化热插拔
功率放大器与控制器分离设计,带电更换<15分钟,维护停机时间缩短70%。

应用案例与行业价值

案例1:3D NAND薄膜沉积(三星西安)

· 痛点:多层堆叠膜厚不均导致良率下降。

· 方案GHW-12Z 自动优化等离子体分布,实时调节阻抗匹配。

· 结果:缺陷率降低40%,年增效210万美元。

案例2:Micro-LED蚀刻(京东方B20线)

· 场景:蓝宝石衬底50nm图形蚀刻。

· 方案1250W激发氟基等离子体,配合RIE工艺。

· 效益:蚀刻速率提升35%,侧壁垂直度达89°±0.5°。

GHW-12Z ENI 4.png

相关设备协同方案

1. AMAT P5000 RF Match:阻抗匹配网络,与 GHW-12Z 构成闭环控制。

2. MKS Spectra B-5002:同品牌射频源,提供热备份冗余。

3. ENI DCG-200电源:直流偏压电源,协同控制等离子体鞘层电势。

4. Bently Nevada 3500:振动监测模块,预防腔体机械共振。

5. Allen Bradley 1761-NET:以太网网关,扩展非AMAT产线控制接口。

 


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