





ENI GHW-12Z(备件号 GHW12Z-13DF2N0-001)是MKS Instruments旗下ENI品牌研发的工业级射频等离子体发生器,专为半导体薄膜沉积与蚀刻工艺设计。该产品通过1250W高稳定功率输出与13.56MHz标准频率,为PECVD、RIE等工艺提供高密度等离子体,满足集成电路、显示面板制造的纳米级精度需求。

在三星西安3D NAND晶圆厂中,ENI GHW-12Z 驱动PECVD反应腔:
· 1250W射频功率激发均匀等离子体,沉积氮化硅薄膜;
· 自动阻抗匹配技术实时补偿腔体波动(响应≤10ms),薄膜均匀性提升至±1.8%(传统设备>±5%),单线年增产晶圆12万片。
特性 | 技术规格 |
产品型号 | ENI GHW-12Z |
制造商 | ENI(MKS Instruments) |
产品类别 | 射频等离子体发生器 |
输出功率 | 1250W(连续可调) |
工作频率 | 13.56MHz(工业标准) |
输入电压 | 208VAC / 400-480VAC(双电压兼容) |
阻抗匹配 | 自动调谐(反射功率<1%) |
通信接口 | RS-232 / 以太网(支持AMAT协议) |
AMAT兼容号 | 0190-25527 / 0190-09832 |
冷却方式 | 强制风冷(冗余散热设计) |
防护等级 | IP54(防颗粒物/溅水) |
· 创新点1:动态阻抗匹配
采用伺服控制反射计实时监测负载,自动调谐电容-电感网络,晶圆尺寸切换时功率波动**<±2%**,良品率提升18%。
· 创新点2:AMAT原生协议集成
直接兼容 Applied Materials GEM 300协议,无缝接入P5000设备,故障诊断效率提高50%。
· 创新点3:模块化热插拔
功率放大器与控制器分离设计,带电更换<15分钟,维护停机时间缩短70%。
案例1:3D NAND薄膜沉积(三星西安)
· 痛点:多层堆叠膜厚不均导致良率下降。
· 方案:GHW-12Z 自动优化等离子体分布,实时调节阻抗匹配。
· 结果:缺陷率降低40%,年增效210万美元。
案例2:Micro-LED蚀刻(京东方B20线)
· 场景:蓝宝石衬底50nm图形蚀刻。
· 方案:1250W激发氟基等离子体,配合RIE工艺。
· 效益:蚀刻速率提升35%,侧壁垂直度达89°±0.5°。

1. AMAT P5000 RF Match:阻抗匹配网络,与 GHW-12Z 构成闭环控制。
2. MKS Spectra B-5002:同品牌射频源,提供热备份冗余。
3. ENI DCG-200电源:直流偏压电源,协同控制等离子体鞘层电势。
4. Bently Nevada 3500:振动监测模块,预防腔体机械共振。
5. Allen Bradley 1761-NET:以太网网关,扩展非AMAT产线控制接口。
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