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ZYGO ZMI-4004

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ZYGO ZMI-4004是一款4轴VME64x测量板,属于ZYGO公司ZMI系列位移测量干涉仪产品。它利用由ZMI激光源驱动的干涉仪发出的光信号来计算位移,主要用于干涉测量系统中,以实现纳米级的位移测量和精确定位。

ZYGO ZMI-4004 (2).jpg

产品参数:


轴数:4轴/板


位置分辨率:0.15nm


最大速度:±2.55m/s


最大速度下的精度(σ):0.2nm


最小光功率:1.0μW


板卡类型:6U VME64x


兼容的激光器:7702、7714和7724


产品规格:尺寸方面需适配6U VME64x标准机箱。工作温度等环境参数需满足工业级标准,以确保在不同工作环境下的稳定性和可靠性。


系列:属于ZYGO ZMI系列,该系列产品专注于位移测量干涉技术,可提供亚纳米级的分辨率,适用于最具挑战性的位置计量应用。

ZYGO ZMI-4004 (3).jpg

产品特征:


高精度测量:采用激光干涉测量技术,可实现纳米级甚至更高分辨率的位移测量。


多轴测量支持:支持4个测量轴,适用于复杂的多轴测量系统。


实时信号处理:具备高性能信号处理功能,可实时处理干涉信号,提供快速、准确的测量反馈。


误差补偿:荣获专利的循环减小误差选项可以自动、无缝地消除DMI系统中常见的固有非线性误差,从而达到最高的测量精度。


兼容性强:兼容ZYGO的激光干涉仪系统,如ZMI系列干涉仪和光学测量系统。


作用:在干涉测量系统中,将干涉仪获取的光信号转换为电信号,并进行高精度的处理和计算,从而精确测量出被测物体的位移变化,为系统提供精确的位置反馈,以实现对物体运动的高精度控制和定位。


用途:主要用于需要高精度位移测量和精确定位的场合,为相关设备和系统提供精确的位置信息,以保证其高精度的运行和加工。

ZYGO ZMI-4004 (4).jpg

应用领域:


半导体制造:如晶圆对准、光刻机精密运动控制等,确保芯片制造过程中的高精度定位和加工。


精密机械加工:实现纳米级定位,提高加工精度,制造高精度的机械零部件。


科研实验:在需要高分辨率位移测量的科研实验中,如材料力学性能测试、微纳尺度下的物理现象研究等,为实验提供精确的测量数据。


航空航天:应用于航空航天精密测量系统,如飞行器零部件的加工制造、航空发动机的装配等,保证航空航天产品的高精度和可靠性。


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